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电子元器件需要做哪些可靠性测试

时间:2021-01-07 来源:计量校准 点击:

电子元器件需要做哪些可靠性测试
 
仪器校验物理性能测试项目
1.内部水蒸气:测定金属或陶瓷封装光电器件内部气体中的水蒸气含量。
2.密封性:确定带有内腔的光电器件封装的气密性。
3.静电放电宽值:确定静电放电引起的光电器件损伤和退化的灵敏度和敏感度。
4.易燃性:确定光电器件中使用的材料的易燃性。
5.剪切力:确定用于将光电器件芯片和无源器件安装在管座或其他基底上的材料和工艺的完整性。
6.可焊性:确定要焊接的光电器件引线(直径小于30175mm的引线和等效横截面积的扁平引线)的可焊性。
7.引线键合强度:利用低温焊接、热压焊接、超声波焊接等技术确定光电器件的引线键合强度。
 
机械完整性测试项目
1.机械冲击:确定光电器件能否应用于需要承受中重度冲击的电子设备。冲击可能由装载、卸载、运输或现场使用过程中的突然应力或剧烈振动引起。
2.变频振动:在标准频率范围内,确定振动对光电器件所有元器件的影响。
3.热冲击:确定光电器件在温度剧烈变化时的电阻和效应。
4.插拔耐久性:确定光电器件光纤连接器的插拔、光功率、损耗、反射等参数是否满足重复性要求。
5.贮存试验:确定光电器件是否能承受高温和低温的运输和贮存。
6.温度循环:确定光电器件承受极高和极低温度的能力,以及极高和极低温度交替变化对光电器件的影响。
7.恒定湿热:确定密封和未密封的光电器件是否能同时承受规定的温度和湿度。
8.高温寿命:确定光电器件在高温加速老化下的失效机理和工作寿命。
 
加速老化试验
将高温、高湿度和一定的驱动电流应用于光电器件加速老化。根据测试结果,可以判断光电器件有功能和无功能,以及接收和拒绝,并可以调整光电器件的工作条件,计算可靠性。
1.高温加速老化:加速老化过程中最基本的环境应力类型高温。在实验过程中,应定期监控选定的参数,直到降解超过寿命终点。
2.恒温试验:恒温试验类似于高温运行试验,因此应规定恒温试验样品的数量和允许的失效数量。
3.变温试验:变温高温加速老化试验是有规律、有顺序地逐渐升温(如60、85、100)。
4.温度循环:除了作为环境应力测试的光电器件温度循环之外,温度循环还会加速电子管器件的老化。通常,通过温度循环加速老化的目的不是导致特定性能参数的退化,而是提供封装在组件中的光路的长期机械稳定性的附加解释。
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